ثبت نام  |   ورود
امکانات دانلود کتابکو است و همیشه خواهد ماند
کتاب دانلود کتاب و مقاله
جستجوی
پیشرفته
MENU
  • درباره ما
  • بحث و تبادل نظر
  • ارسال کتاب
  • درخواست کتاب
  • دانلود مقاله ISI
  • دسته بندی کتاب ها
  • کتاب ها
  • صفحه اصلی

کتابکو موتور جستجوی کتاب های الکترونیکی در سطح اینترنت می باشد که همانند سایر موتورهای جستجو - مثلا گوگل - می تواند کتاب ها و اطلاعات مربوط به آن ها را استخراج و ایندکس نماید. در میان جستجو و ایندکس کردن کتاب ها، ممکن است کتابکو محتوای شامل کپی رایت را نیز ایندکس نماید. این فرآیند کاملا اجتناب ناپذیر است. چرا که ربات کتابکو محتوای شامل کپی رایت را از غیر آن تشخیص نمی دهد. دقیقا مانند موتور جستجوی عکس گوگل و یا گوگل اسکلار که ممکن است شامل محتوای دارای کپی رایت نیز باشد. ما کتاب ها را اسکن و آپلود نمی کنیم. استفاده از منابع این سایت تماما با مسئولیت و اطلاع استفاده کننده خواهد بود. اگر شما محتوای خود را در کتاب یافتید و خواستار حذف آن بودید، با ارسال یک ایمیل به دپارتمان حذف آثار از طریق "این ایمیل"، درخواست خود را ارسال نمایید. کتاب شما در کمتر از یک روز کاری حذف خواهد شد.

❌ بستن

نتایج جستجو

برای Metrology، صفحه ۱ از ۷ در بین ۱۵۳ کتاب.
    PDF
    Metrology in Industry - The Key for Quality

    Metrology in Industry - The Key for Quality

    French College of Metrology, Dominique Placko, 2006
    PDF
    Metrology in Industry: The Key for Quality

    Metrology in Industry: The Key for Quality

    French College of Metrology(auth.), 2006
    PDF
    Optical Metrology: Coherent and Incoherent Optics for Metrology, Sensing and Control in Science, Industry and Biomedicine

    Optical Metrology: Coherent and Incoherent Optics for Metrology, Sensing and Control in Science, Industry and Biomedicine

    H. J. Caulfield (auth.), Olivério D. D. Soares (eds.), 1987
    PDF
    Transverse Disciplines in Metrology

    Transverse Disciplines in Metrology

    French College of Metrology, 2009
    PDF
    Transverse Disciplines in Metrology

    Transverse Disciplines in Metrology

    French College of Metrology(auth.), 2009
    DJVU
    Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology (Microsystem and Nanotechnology Series)

    Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology (Microsystem and Nanotechnology Series)

    Anand Asundi, 2011
    PDF
    Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology (Microsystem and Nanotechnology Series? ?(ME20))

    Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology (Microsystem and Nanotechnology Series? ?(ME20))

    Anand Asundi, 2011
    PDF
    Advanced Mathematical And Computational Tools in Metrology VII (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences)

    Advanced Mathematical And Computational Tools in Metrology VII (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences)

    P. Ciarlini, E Filipe, A B Forbes, F Pavese, C Perruchet, B R L Siebert, 2006
    PDF
    Advances in Data Modeling for Measurements in the Metrology and Testing Fields

    Advances in Data Modeling for Measurements in the Metrology and Testing Fields

    Franco Pavese, Alistair B.Forbes, 2004
    PDF
    Handbook of optical metrology: principles and applications

    Handbook of optical metrology: principles and applications

    Toru Yoshizawa (editor), 2009
    PDF
    Handbook of optical metrology: principles and applications

    Handbook of optical metrology: principles and applications

    Toru Yoshizawa (editor), 2009
    RAR
    Handbook of optical metrology: principles and applications

    Handbook of optical metrology: principles and applications

    Toru Yoshizawa (editor), 2009
    DJVU
    Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference (AIP Conference Proceedings)

    Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference (AIP Conference Proceedings)

    David G. Seiler, Alain C. Diebold, Thomas J. Shaffner, Robert McDonald, W. Murray Bullis, Patrick J. Smith, Erik M. Secula, 2001
    DJVU
    Advanced Mathematical And Computational Tools in Metrology (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences)

    Advanced Mathematical And Computational Tools in Metrology (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences)

    P. Ciarlini, E Filipe, A B Forbes, F Pavese, C Perruchet, B R L Siebert, 2006
    PDF
    Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology VII: 7

    Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology VII: 7

    P. Ciarlini, E Filipe, A B Forbes, F Pavese, C Perruchet, B R L Siebert, 2006
    PDF
    Comprehensive Mass Metrology

    Comprehensive Mass Metrology

    2000
    PDF
    Mass Metrology

    Mass Metrology

    S. V. Gupta (auth.), 2012
    PDF
    A Practical Guide to Optical Metrology for Thin Films

    A Practical Guide to Optical Metrology for Thin Films

    Dr. Michael Quinten(auth.), 2012
    PDF
    Accurate Visual Metrology from Single and Multiple Uncalibrated Images

    Accurate Visual Metrology from Single and Multiple Uncalibrated Images

    Antonio Criminisi (auth.), 2001
    PDF
    Advanced Holography - Metrology and Imaging

    Advanced Holography - Metrology and Imaging

    I. Naydenova, 2011
    PDF
    Advanced Mathematical & Computational Tools in Metrology IV

    Advanced Mathematical & Computational Tools in Metrology IV

    Ciarlini P., et al. (eds.), 2000
    PDF
    Advanced mathematical and computational tools in metrology and testing X

    Advanced mathematical and computational tools in metrology and testing X

    Pavese, Franco et al. (eds.), 2015
    PDF
    Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing: Amctm VIII

    Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing: Amctm VIII

    Franco Pavese; World Scientific (Firm); et al(eds.), 2009
    DJVU
    Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology V

    Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology V

    P. Ciarlini, M. G. Cox, E. Filipe, F. Pavese, D. Richter, 2001
    PDF
    Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology VI

    Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology VI

    P. Ciarlini, M. G. Cox, F. Pavese, G. B. Rossi, 2004
    ۱ ۲ ۳ ۴ ۵ ۶ >|

    مقالات ISI مرتبط

    Efficient performance of neural networks for nonlinearity error modeling of three longitudinal mode interferometer in nano metrology system
    Saeed Olyaee, Samaneh Hamedi, Zahra Dashtba
    Experimental validation and characterization of a real-time metrology system for photopolymerization-based stereolithographic additive manufacturing process
    Xiayun Zhao, David W. Rose
    A review of atomic force microscopy imaging systems: application to molecular metrology and biological sciences
    Nader Jalili, Karthik Laxminarayan
    Optimization of acid gas sweetening plant based on least squares — Support Vector Machine (LS-SVM) Model and Grey Wolf Optimizer (GWO)
    Totok Ruki Biyanto, Naindar Afdanny, Muhammad Salman Alfarisi, Toto Haksoro, Shita Agustin Kusumaningtya
    Atmospheric Angular Momentum Time-Series: Characterization of their Internal Noise and Creation of a Combined Series
    L. Koot, O. de. Viron, V. Dehan

دانلود کتاب   |   کتاب ها   |   نرم افزارهای مفید

کتابکو چگونه کار می کند   |   درخواست حذف اثر   |   راهنمای کسب امتیاز   |   سیاست حفظ حریم خصوصی   |   سیاست ضد هرزنامه

کپی رایت ۲۰۱۴ تا ۲۰۲۵, ketabkoo.com (کتابکو)   |   ارتباط با ما

تمامی كالاها و خدمات این سایت، حسب مورد، دارای مجوزهای لازم از مراجع مربوطه می باشند و فعالیت‌های این سایت تابع قوانین و مقررات جمهوری اسلامی ایران است.