دانلود کتاب Transient-Induced Latchup in CMOS Integrated Circuits

Name: Transient-Induced Latchup in CMOS Integrated Circuits
Availability: InStock
Author: Ming?Dou Ker
ISBN: 9780470824078, 9780470824092

by Ming?Dou Ker

عنوان فارسی: Latchup گذرا ناشی از در مدارهای CMOS مجتمع
زبان: انگلیسی
تعداد صفحه (نسخه چاپی - نسخه الکترونیکی): 256-256
شابک: 9780470824078, 9780470824092
نوع فایل: PDF دانلود نرم افزار مطالعه
حجم: 38.00 مگابایت

گزارش تخلف

دانلود کتاب

افزودن خلاصه فارسی

جزییات کتاب

Content: Chapter 1 Introduction (pages 1–21): Chapter 2 Physical Mechanism of TLU under the System?Level ESD Test (pages 23–45): Chapter 3 Component?Level Measurement for TLU under System?Level ESD Considerations (pages 47–73): Chapter 4 TLU Dependency on Power?Pin Damping Frequency and Damping Factor in CMOS Integrated Circuits (pages 75–93): Chapter 5 TLU in CMOS ICs in the Electrical Fast Transient Test (pages 95–112): Chapter 6 Methodology on Extracting Compact Layout Rules for Latchup Prevention (pages 113–150): Chapter 7 Special Layout Issues for Latchup Prevention (pages 151–168): Chapter 8 TLU Prevention in Power?Rail ESD Clamp Circuits (pages 169–206): Chapter 9 Summary (pages 207–210):

کتاب های مرتبط

این کتاب رو مطالعه کردید؟ نظر شما چیست؟

برای ارسال نظر، لطفا وارد شوید.

نظر دهید

Adding comments has been disabled.

نظرات (0)

هنوز نظری داده نشده است. شما اولین باشید!